Kurzvita und Ausbildung

  • 1992 – 1998
    Studium der Physik, Universität Karlsruhe, Deutschland

  • 1994 – 1995
    Ecole Nationale Supérieure de Physique de Grenoble, Frankreich

  • 1996 – 1997
    Ecole Nationale Supérieure de Physique de Grenoble, Frankreich, Diplom in Ingenieurswissenschaften

  • 1998
    Diplom in Physik, Universität Karlsruhe

  • 1998 – 2001
    Promotion, Universität Basel, Schweiz

  • 2001 – 2002
    Postdoc, Universität Basel

  • 2003 – 2003
    Wissenschaftliche Mitarbeiterin, McGill University Montreal, Kanada

  • 2003 – 2009
    Postdoc, Universität Karlsruhe

  • 2005 – 2008
    Projektleiterin, Exzellenzinitative der Landesstiftung Baden-Württemberg

  • 2010
    Projektleiterin, ERC Starting Grant

Ausgewählte Veröffentlichungen

  • D. Stöffler et al., Scanning probe microscopy imaging of metallic nanocontacts, Phys. Rev. B 85B, 033404 (2012).

  • H. Hölscher, et al., The Effective Quality Factor in Dynamic Force Microscopes with Fabry-Perot-Interferometer Detection, Appl. Phys. Lett. 94, 223514(2009).

  • K. Ruschmeier, et al., Atomic Scale Force Vector Fields, Phys. Rev. Lett. 101, 156102 (2008).

  • R. Hoffmann, et al., Conductance of gold nanojunctions thinned by electromigration, Appl. Phys. Lett. 93, 043118 (2008).

  • A. Singh et al., Spin-polarized current versus stray field in a perpendicularly magnetized superconducting spin switch, Appl. Phys. Lett. 91, 152504 (2007).

  • R. Hoffmann et al., Measuring Site Specific Cluster Surface Bond Formation, JACS 127, 17863 (2005).

  • T. Kunstmann et al., Dynamic force microscopy study of 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride on KBr (001), Phys. Rev. B 71R, 121403 (2005).

  • S. A. Burke et al., Nucleation and Submonolayer Growth of C60 on KBr, Phys. Rev. Lett. 94, 096102 (2005).

  • R. Hoffmann et al. Sublattice Identification in Scanning Force Microscopy on Alkali Halide Surfaces, Phys. Rev. Lett. 92, 146103 (2004).

  • M. A. Lantz et al., Quantitative Measurement of Short-Range Chemical Bonding Forces, Science 291, 2580 (2001).

  • M. A. Lantz et al., Low Temperature Scanning Force Microscopy of the Si(111) 7x7 Surface, Phys. Rev. Lett. 84, 2642 (2000).



Vollständige Literaturliste

Ausgewählte Projekte

  • "Preparation and characterization of thin metallic bridges under ultrahigh-vacuum conditions", Eliteförderung für Postdoktoranden, Baden-Württemberg-Stiftung

  • "Structural and electronic properties of nanoscale metallic contacts fabricated by thermally assisted electromigration", ERC Starting Grant

Mitgliedschaften in Gremien und Jurys

  • Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG)

  • American Physical Society (APS)

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